仪器名称及共享服务：CT扫描试验装置

型号：Bruker /Skyscan 1273

主要技术指标

X射线源：40~130 kV, 最高可达39 W X射线探测器：600万像素CMOS平板探测器，3072x1944像素 重构切片规格：最高可达4800x4800像素 分辨率：体素尺寸< 3 μm，三维空间分辨率< 5 μm 最大样品尺寸：直径300 mm，高度500 mm，重量20 kg 最大的可扫描尺寸：直径250 mm，高度250 mm

主要功能

主要用于研究材料在不同条件下的三维形貌，以及与基体的粘结程度和界面的形态，可以在不破坏样本的情况下清楚了解样品的内部结构，孔隙，夹杂等的分布，通过CT扫描得到高分辨三维图像，即可直观检测也可定量分析。该仪器主要包括高强度微焦斑光源，CMOS探测器、高精度样品台以及相关控制系统，除静态成像外，还可用于快速扫描的准动态成像。

服务内容

可开展材料在不同条件下的三维形貌分析，以及与基体的粘结程度和界面的形态，可以在不破坏样本的情况下清楚了解样品的内部结构，孔隙，夹杂等的分布。